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        1. 帕剌斯儀器(上海)有限公司

          PRODUCT DISPLAY

          當(dāng)前位置:帕剌斯儀器(上海)有限公司>>環(huán)境>>納米粒子測量設(shè)備>> U-SMPS 1700SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀-帕剌斯儀器(上海)有限公司

          SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀-帕剌斯儀器(上海)有限公司

          參  考  價:面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          產(chǎn)品型號:U-SMPS 1700

          品       牌:Palas/帕剌斯

          廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

          所  在  地:上海

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          更新時間:2024-09-20 10:05:25瀏覽次數(shù):4663次

          聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保
          SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀,適合2-400 nm的高濃度應(yīng)用,連續(xù)和快速掃描的測量原理。
              SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩種版本。U-SMPS帶有短分類柱(1700型),特別適合2-400nm范圍內(nèi)的*精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個分類器[在ISO15900中定義稱為差動遷移率分類器(DEMC),也稱為差動遷移率分析儀(DMA)],根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后,在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。

              氣溶膠靜電計的一個主要優(yōu)點(diǎn)是可以進(jìn)行非常快速的測量。但是,這種方法需要很高的成本。因此,其適用性被限制于高氣溶膠濃度(例如,燃燒過程或顆粒發(fā)生器的下游)??梢酝ㄟ^物理參數(shù)直接追溯每時間單位(流量)的電荷測量值。其結(jié)果是,此方法主要用作凝結(jié)粒子計數(shù)器(例如UF-CPC)校準(zhǔn)期間的參考。

              U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進(jìn)行操作??梢栽诙潭?0秒內(nèi)執(zhí)行單粒子分布掃描,或者多在128個尺寸通道中執(zhí)行掃描,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化,從而導(dǎo)致每個尺寸通道的計數(shù)統(tǒng)計效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上線性和對數(shù)顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數(shù)據(jù)評估(豐富的統(tǒng)計和平均值計算)和導(dǎo)出功能。

              U-SMPS通常作為獨(dú)立設(shè)備運(yùn)行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)連接到計算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)。Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和氣溶膠靜電計。

              U-SMPS的準(zhǔn)確尺寸測定和可靠性能尤其重要,特別是對于校準(zhǔn)。所有組件都必須通過嚴(yán)格的質(zhì)量保證測試,并在內(nèi)部組裝。

              圖1展示U-SMPS的工作原理:

           

              圖1:使用氣溶膠靜電計作為濃度測量裝置的通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理

              氣溶膠在進(jìn)入分類器(DEMC列)之前經(jīng)過調(diào)節(jié)??蛇x的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑(例如Kr85)來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒,需要在DEMC的入口處使用撞擊器。

              然后,氣溶膠通過入口導(dǎo)入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護(hù)套氣流仔細(xì)合并。重要的是在此處避免任何湍流,以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有*的質(zhì)量。

              鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣(通常是空氣),其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數(shù),因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓,在內(nèi)外電極之間會產(chǎn)生一個徑向?qū)ΨQ的電場。內(nèi)電極在末端帶有小縫隙,帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學(xué)阻力,帶負(fù)電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率,一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。

              在工作中,電壓和電場因此而連續(xù)變化。結(jié)果,具有變化遷移率的顆粒會離開DEMC,并且由納米顆粒計數(shù)器–在此顯示為氣溶膠靜電計(例如Palas®Charme®)連續(xù)測量-。

              為了組合數(shù)據(jù)(電壓、電荷數(shù)、電荷分布等)并獲得粒度分布,必須進(jìn)行逆變換。為此,使用的算法是由IfT(德國萊比錫)的Wiedensohler教授開發(fā)的算法。


           

           
              圖2:在觸摸屏顯示Palas®DNP3000顆粒發(fā)生器產(chǎn)生的氣溶膠粒徑

           

               用戶界面和軟件

              基于持續(xù)的客戶反饋,我們設(shè)計了良好的用戶界面和軟件,以實現(xiàn)直觀的操作、實時控制并顯示測量數(shù)據(jù)和參數(shù)。

              此外,軟件還通過集成的數(shù)據(jù)記錄器、完善的導(dǎo)出功能和網(wǎng)絡(luò)支持為數(shù)據(jù)管理提供支持。測量數(shù)據(jù)可以顯示和評估。

              可用系統(tǒng)

              圖3顯示Palas®可提供的DEMC和Charme®氣溶膠靜電計的兩種組合。對于DEMC分類器與Palas®冷凝粒子計數(shù)器的組合,請閱讀“U-SMPS1xx0_2xx0_V0011212”規(guī)格參數(shù)表。其他制造商提供的大多數(shù)DMA、CPC和氣溶膠靜電計都可以用作U-SMPS系統(tǒng)的組件。

           

           

               圖3:用于高濃度顆粒測量的Palas®U-SMPS系統(tǒng)概述

               SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀規(guī)格參數(shù):
           

          測量范圍(尺寸) 2 – 400 nm
          尺寸通道 高256(128 /衰減)
          測量范圍(濃度數(shù)據(jù)) 0-108個顆粒/立方厘米
          用戶界面 觸摸屏,800•480像素,7英寸(17.78 厘米)
          數(shù)據(jù)記錄儀存儲 4 GB
          軟件 PD分析
          調(diào)整范圍(電壓) 1 – 10,000 V
          體積流量(鞘空氣) 2.5 – 14升/分鐘
          安裝條件 +5 – +40 °C(控制單元)

           
              SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀優(yōu)點(diǎn):

              •2至400nm粒徑分布

              •連續(xù)和快速掃描的測量原理

              •高分辨率,多128個分類器/衰減

              •適用于高達(dá)108顆粒/立方厘米的濃度

              •通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數(shù)器

              •圖形顯示測量值

              •直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI

              •集成數(shù)據(jù)記錄儀

              •支持多種接口和遠(yuǎn)程訪問

              •低維護(hù)

              •功能可靠

              •減少您的運(yùn)營費(fèi)用

              應(yīng)用領(lǐng)域:

              •過濾測試

              •氣溶膠研究

              •吸入實驗

              •工作場所測量

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